更新時間:2025-01-23
孔徑測量,可以用於檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當於可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩隻消除了摩擦力影響的位移傳感器。
孔徑測量
這是一台在很多校準實驗室采用的標定環規的計量設備,由於其*的設計和可靠的表現至今沒有被其他產品代替。可以用於檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當於可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩隻消除了摩擦力影響的位移傳感器。孔徑測量這是一台可以測量百萬分之內外尺寸的儀器,同時可以用來測量一些高精度的盤類零件。
孔徑測量技術描述
測量範圍: 內尺寸: 300mm,外尺寸:279mm
重複精度; ±0.025µm
測頭量程: ±40µm
示值誤差:0.25%量程
測頭材料:金剛石
重量:306kg
儀器高度:1422mm
工作台尺寸:279mm x 406mm
占地尺寸:406mm x 508mm
數字輸出接口RS232C
電源:230V±10% 50-60Hz
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工廠地址:北京市海澱區中關村紫金數碼園3號樓709室
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